A.橫向缺陷的檢測采用60°尖角槽人工缺陷
B.探頭與工件接觸面應吻合良好
C.掃差靈敏度在基準靈敏度的基礎上提高9dB
D.在檢測縱向缺陷時,探頭沿螺旋線進行掃查
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.折射角采用棱角反射法測定
B.入射點測定采用直徑為1.5mm×20mm的橫孔
C.利用中心發(fā)現(xiàn)儀測定入射角
D.利用曲面對比試塊測定入射點和折射角
A.一般采用液浸法耦合
B.可以在監(jiān)視器上進行A、B、C型顯示
C.缺陷利用網(wǎng)絡標記顯示二值化圖像
D.缺陷評定目前不能執(zhí)行JB/T4730.3—2005標準
A.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波小,容易檢出
B.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波大,不易檢出
C.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波大,不易檢出查
D.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波小,容易檢查
A.采用與被檢工件材質(zhì)相同的ϕ5mm平底孔試塊調(diào)節(jié)靈敏度
B.當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ叩陀陲@示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理
C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理
D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
最新試題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
單探頭法容易檢出()。