A.移動探頭至裂紋顯示波高與人工反射體波高相同的點;
B.移動探頭至裂紋顯示波高與底面回波高度相同的點;
C.移動探頭至裂紋顯示波高50%的點;
D.以上都可以。
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A.0.8mm
B.1.2mm
C.2.0mm
D.3.2mm
A.等于聲波在工件中的傳播時間;
B.大于聲波在工件中的傳播時間;
C.小于聲波在工件中的傳播時間;
D.以上都不對。
A.掃查面上多余的耦合劑會產(chǎn)生假顯示
B.探頭與斜楔接觸不良會降低靈敏度
C.熒光屏上的固定回波有可能是斜楔內(nèi)產(chǎn)生的反射波
D.以上都有可能
A.底波后7.6D
B.底波前7.6D
C.底波后0.76D
D.底波前0.76D
A.緊鄰孔波之后的位置
B.緊鄰始波之后的位置
C.緊鄰孔波之前的位置
D.任何位置都有可能
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。