A.等于聲波在工件中的傳播時(shí)間;
B.大于聲波在工件中的傳播時(shí)間;
C.小于聲波在工件中的傳播時(shí)間;
D.以上都不對。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.掃查面上多余的耦合劑會(huì)產(chǎn)生假顯示
B.探頭與斜楔接觸不良會(huì)降低靈敏度
C.熒光屏上的固定回波有可能是斜楔內(nèi)產(chǎn)生的反射波
D.以上都有可能
A.底波后7.6D
B.底波前7.6D
C.底波后0.76D
D.底波前0.76D
A.緊鄰孔波之后的位置
B.緊鄰始波之后的位置
C.緊鄰孔波之前的位置
D.任何位置都有可能
A.手持探頭的姿勢隨探頭移動(dòng)而保持不變;
B.探頭移動(dòng)時(shí),注意熒光屏上底波是否變化;
C.探頭移動(dòng)時(shí),注意熒光屏上固定回波或基線上噪聲信號(hào)波動(dòng)狀態(tài);
D.盡量多涂耦合劑。
A.滿刻度
B.不小于滿刻度的85%
C.不大于滿刻度的10%
D.不小于水平極限的85%
最新試題
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。