A.緊鄰孔波之后的位置
B.緊鄰始波之后的位置
C.緊鄰孔波之前的位置
D.任何位置都有可能
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A.手持探頭的姿勢隨探頭移動而保持不變;
B.探頭移動時,注意熒光屏上底波是否變化;
C.探頭移動時,注意熒光屏上固定回波或基線上噪聲信號波動狀態(tài);
D.盡量多涂耦合劑。
A.滿刻度
B.不小于滿刻度的85%
C.不大于滿刻度的10%
D.不小于水平極限的85%
A.防止耦合劑進入孔內不易清除而導致螺栓腐蝕;
B.防止耦合劑進入孔內而產生偽缺陷顯示信號;
C.改善耦合效果,有利于聲傳播;
D.以上都是。
A.根據回波位置;
B.根據回波幅度;
C.根據回波相位;
D.根據缺陷回波。
A.與相鄰或對應位置上件號相同的螺栓對比
B.與參考試塊進行對比
C.應立即拆除做表面探傷檢查確認
D.按裂紋顯示作報廢處理
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
關于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
靈敏度采用試塊調節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
調節(jié)時基線時,應使()同時對準相應的聲程位置。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
單探頭法容易檢出()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。