A.0.8mm
B.1.2mm
C.2.0mm
D.3.2mm
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A.等于聲波在工件中的傳播時(shí)間;
B.大于聲波在工件中的傳播時(shí)間;
C.小于聲波在工件中的傳播時(shí)間;
D.以上都不對(duì)。
A.掃查面上多余的耦合劑會(huì)產(chǎn)生假顯示
B.探頭與斜楔接觸不良會(huì)降低靈敏度
C.熒光屏上的固定回波有可能是斜楔內(nèi)產(chǎn)生的反射波
D.以上都有可能
A.底波后7.6D
B.底波前7.6D
C.底波后0.76D
D.底波前0.76D
A.緊鄰孔波之后的位置
B.緊鄰始波之后的位置
C.緊鄰孔波之前的位置
D.任何位置都有可能
A.手持探頭的姿勢(shì)隨探頭移動(dòng)而保持不變;
B.探頭移動(dòng)時(shí),注意熒光屏上底波是否變化;
C.探頭移動(dòng)時(shí),注意熒光屏上固定回波或基線上噪聲信號(hào)波動(dòng)狀態(tài);
D.盡量多涂耦合劑。
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
儀器水平線性影響()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。