A.內(nèi)孔探傷
B.零件探傷
C.絲材探傷
D.焊縫探傷
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.只能用于手動(dòng)探頭
B.只能用于旋轉(zhuǎn)探頭
C.只能用于穿過(guò)式探頭
D.以上三種都適應(yīng)
A.磁差式
B.分壓式
C.電差式
D.分液式
A.大型電子計(jì)算機(jī)的精密運(yùn)算
B.求解麥克斯韋方程組
C.矢量阻抗圖的圖示分析
D.理論估算和大量的實(shí)驗(yàn)
A.影響很大
B.影響很小
C.根本沒(méi)有影響
D.只在特殊情況下有影響
A.不存在
B.也存在
C.只在動(dòng)態(tài)時(shí)存在
D.只在靜態(tài)時(shí)存在
最新試題
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
底片或電子圖片、X射線(xiàn)照相檢驗(yàn)記錄、射線(xiàn)檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線(xiàn)檢測(cè)。
X射線(xiàn)檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線(xiàn)圈,其阻抗變大的情況有()
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。
二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。