A.磁粉的流動(dòng)性不再對(duì)檢驗(yàn)有影響;
B.直流電易于達(dá)到磁場(chǎng)飽和;
C.交流電的趨膚效應(yīng)使可發(fā)現(xiàn)缺陷的深度變小
D.沒有技術(shù)方面的理由
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A.紫外光是可見光;
B.用來(lái)熒光磁粉探傷的紫外波長(zhǎng)是3650埃;
C.被檢工件表面上的紫外光光強(qiáng)不得低于970lx
D.波長(zhǎng)小于3300³10m的紫外光對(duì)人眼有害;
E.除A以外都對(duì)-10
A.交流電磁化時(shí)在切斷電流反向以前;
B.磁化電流切斷以后;
C.通電過(guò)程中;
D.施加磁粉時(shí)
A.縱向磁化;
B.周向磁化;
C.復(fù)合磁化;
D.剩余磁化
A.周向磁化;
B.縱向磁化;
C.A和B;
D.A和B都不是
A.產(chǎn)生強(qiáng)顯示;
B.產(chǎn)生弱顯示;
C.不產(chǎn)生顯示;
D.產(chǎn)生模糊顯示
最新試題
一般說(shuō)來(lái),進(jìn)行了周向磁化工件的退磁,應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
在不退磁的情況下,周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
剩磁法不能用于干法檢測(cè)。
在工件內(nèi)部的剩磁,周向磁化要比縱向磁化大的多。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:檢測(cè)后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件,一般可不進(jìn)行退磁。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中,逐漸減小電流至零。
材料磁導(dǎo)率低(剩磁大)及直流磁化后,退磁磁場(chǎng)換向的次數(shù)(退磁頻率)應(yīng)較多,每次下降的磁場(chǎng)值應(yīng)較小,且每次停留的時(shí)間(周期)要略長(zhǎng)。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。