A.紫外光是可見光;
B.用來熒光磁粉探傷的紫外波長是3650埃;
C.被檢工件表面上的紫外光光強(qiáng)不得低于970lx
D.波長小于3300³10m的紫外光對(duì)人眼有害;
E.除A以外都對(duì)-10
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A.交流電磁化時(shí)在切斷電流反向以前;
B.磁化電流切斷以后;
C.通電過程中;
D.施加磁粉時(shí)
A.縱向磁化;
B.周向磁化;
C.復(fù)合磁化;
D.剩余磁化
A.周向磁化;
B.縱向磁化;
C.A和B;
D.A和B都不是
A.產(chǎn)生強(qiáng)顯示;
B.產(chǎn)生弱顯示;
C.不產(chǎn)生顯示;
D.產(chǎn)生模糊顯示
A.與缺陷寬深比無關(guān);
B.缺陷深度至少是其寬度的5倍;
C.缺陷的寬深比為1;
D.以上都不是
最新試題
對(duì)于交流線圈,線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
采用剩磁法時(shí),磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加,一般通電時(shí)間為2~3s。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:檢測后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件,一般可不進(jìn)行退磁。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度,確定被檢工件的磁化規(guī)范。
剩磁法不能用于干法檢測。
用連續(xù)法檢測時(shí),檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān)。
在不退磁的情況下,周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
打亂材料磁疇排布的兩種方法是:加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場退磁法。