JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。

濕法用磁粉粒度一般比干法小。

標準試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。

根據JB/T4730.4-2005標準規(guī)定，磁粉檢測前的工件表面準備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強劑。

用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強度有關，還受被檢工件材質的影響。

退磁就是消除材料磁化后的剩余磁場使其達到無磁狀態(tài)的過程。

組合裝配件應分解后再進行磁粉檢測。

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

采用濕法時，應確認整個檢測面被磁懸液濕潤后，再施加磁懸液。

一般說來，進行了周向磁化工件的退磁，應先進行一次縱向磁化。