JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：當辯認細小缺陷磁痕時應用2～10倍放大鏡進行觀察。

相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。

磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應記錄并圖示。

用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)。

在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光，即可判定磁懸液污染。

磁粉檢測—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：剩磁應不大于0.3mT（240A/m）。

濕法用磁粉粒度一般比干法小。

標準試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。

打亂材料磁疇排布的兩種方法是：加熱到居里點溫度以上熱處理退磁法和反磁場退磁法。