A.使熒屏上不含底面反射信號(hào)
B.使平行于入射面的缺陷難于檢出
C.通常表明金屬中存在多孔信號(hào)
D.降低檢測的穿透力
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A.近場效應(yīng)
B.衰減
C.檢測系統(tǒng)的回復(fù)時(shí)間
D.折射
A.確定缺陷的深度
B.評價(jià)表面缺陷
C.作為評價(jià)線型缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.校正距離-幅度變化
A.與2mm平底孔的面積相同
B.較2mm平底孔要大
C.略小于2mm平底孔
D.約為2mm平底孔面積的一半
A.工件中的氣孔
B.掃描線
C.標(biāo)記模式
D.電干擾
A.用接觸法
B.水浸法和相當(dāng)于水浸的方法
C.用接觸法或水浸法
D.用盡可能最高靈敏度的方法
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
探頭延檢測面水平移動(dòng)，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。