A.各種尺寸的體積缺陷
B.小于聲束截面的缺陷
C.大于聲束截面的缺陷
D.評(píng)定缺陷尺寸僅與參考試塊有關(guān)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.以上都可以
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定法
A.制作同厚度的直徑3.2mm平底孔參考試塊用于調(diào)整起始靈敏度
B.按直徑3.2mm當(dāng)量值計(jì)算法調(diào)整起始靈敏度
C.找出該鋁件底波后增加20dB作為起始靈敏度
D.采用厚度100mm參考試塊、分區(qū)域調(diào)整起始靈敏度
A.橫通孔試塊
B.平底孔試塊
C.帶棱邊的矩形試塊
D.以上都可以
A.橫通孔試塊
B.平底孔試塊(橫波)
C.帶棱邊的矩形試塊
D.以上都可以
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
單探頭法容易檢出()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。