A.橫通孔試塊
B.平底孔試塊
C.帶棱邊的矩形試塊
D.以上都可以
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.橫通孔試塊
B.平底孔試塊（橫波）
C.帶棱邊的矩形試塊
D.以上都可以
A.35°
B.45°
C.55°
D.60°
A.可以直接在帶棱邊的工件上調(diào)整時(shí)基線
B.工件表面的外來(lái)物對(duì)聲波衰減有明顯作用
C.通過(guò)手指觸摸可以容易地找到反射點(diǎn)
D.以上都是
A.檢測(cè)技術(shù)的選擇是否正確
B.檢測(cè)過(guò)程的操作是否正確
C.缺陷評(píng)定方法是否正確
D.以上都是
A.由于缺陷取向的影響；大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響；圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響；氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響；對(duì)于傾斜缺陷，粗糙面的回波比光滑面的回波高
最新試題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。