A.±3%和±1%
B.±2%和±1%
C.±5%和±1%
D.+3%和-1%
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你可能感興趣的試題
A.分辨力
B.重復(fù)頻率
C.水平線性
D.分辨頻率
A.分辨力和靈敏度
B.指向性和近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.折射角和入射角
D.指示長(zhǎng)度
A.用直徑較小的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
B.用頻率較低的縱波進(jìn)行檢驗(yàn)
C.將接觸法檢驗(yàn)改為液浸法檢驗(yàn)
D.將縱波檢驗(yàn)改為橫波檢驗(yàn)
A.反射橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時(shí)的反射率最高
C.入射角為45°時(shí)的反射率最高
D.入射角為60°時(shí)的反射率最低
A.入射聲壓
B.反射聲強(qiáng)
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
最新試題
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()