A.聲束從緊固件頭部入射時(shí),將底波調(diào)至40%滿屏
B.聲束從螺紋端部入射時(shí),將底波調(diào)至40%滿屏
C.無(wú)論聲束從哪端入射,均將底波調(diào)至80%滿屏
D.必須使用帶模擬裂紋的緊固件調(diào)整靈敏度
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A.去除探頭掃查區(qū)域的漆層
B.去除可能存在裂紋區(qū)域的漆層
C.僅需提高增益而不必去除漆層
D.A和B
A.在60%基線處出現(xiàn)25%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng);
B.在60%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且不隨探頭移動(dòng)而移動(dòng);
C.在50%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng);
D.以上顯示都不應(yīng)判為裂紋顯示。
A.信號(hào)顯示位置將伴隨探頭沿圓周移動(dòng)而移動(dòng)
B.信號(hào)顯示位置不會(huì)伴隨探頭沿圓周移動(dòng)而移動(dòng)
C.當(dāng)探頭沿圓周移動(dòng)時(shí),信號(hào)幅度會(huì)變化而位置不會(huì)變化
D.當(dāng)探頭沿圓周移動(dòng)時(shí),信號(hào)位置和幅度都將發(fā)生變化
A.盡量從兩個(gè)方向進(jìn)行掃查,以保證聲束覆蓋整個(gè)孔內(nèi)壁;
B.探頭在凸耳外圓與桿身過(guò)度區(qū)掃查時(shí),可能會(huì)出現(xiàn)孔波的情況;
C.探頭應(yīng)轉(zhuǎn)動(dòng)或傾斜掃查,以便發(fā)現(xiàn)位于側(cè)壁的小缺陷;
D.以上都是。
A.利用受檢件底面回波;
B.利用受檢件側(cè)壁回波;
C.利用受檢件孔壁回波;
D.盡可能將儀器增益調(diào)至最大。
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
單探頭法容易檢出()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。