A.在60%基線處出現(xiàn)25%波幅的顯示、且隨探頭移動而移動;
B.在60%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且不隨探頭移動而移動;
C.在50%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且隨探頭移動而移動;
D.以上顯示都不應(yīng)判為裂紋顯示。
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A.信號顯示位置將伴隨探頭沿圓周移動而移動
B.信號顯示位置不會伴隨探頭沿圓周移動而移動
C.當(dāng)探頭沿圓周移動時,信號幅度會變化而位置不會變化
D.當(dāng)探頭沿圓周移動時,信號位置和幅度都將發(fā)生變化
A.盡量從兩個方向進行掃查,以保證聲束覆蓋整個孔內(nèi)壁;
B.探頭在凸耳外圓與桿身過度區(qū)掃查時,可能會出現(xiàn)孔波的情況;
C.探頭應(yīng)轉(zhuǎn)動或傾斜掃查,以便發(fā)現(xiàn)位于側(cè)壁的小缺陷;
D.以上都是。
A.利用受檢件底面回波;
B.利用受檢件側(cè)壁回波;
C.利用受檢件孔壁回波;
D.盡可能將儀器增益調(diào)至最大。
A.能夠看清參考試塊人工缺陷信號和觸發(fā)報警
B.能夠看清底波信號并保持信號穩(wěn)定
C.能夠清晰分辨出裂紋信號和由結(jié)構(gòu)引起的非裂紋等干擾信號
D.能夠很容易在參考試塊上找出人工缺陷信號
A.容易接近的區(qū)域
B.任何區(qū)域
C.不容易接近的區(qū)域
D.以上都是
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。