以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

當(dāng)射線(xiàn)穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足（）

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

影響較大的散射線(xiàn)通常來(lái)自（）

對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線(xiàn)能量為（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

射線(xiàn)照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）