A.平底孔
B.V形缺口
C.橫通孔
D.大平底
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A.提高信噪比
B.改善超聲波束的橫向分辨率
C.提高檢測靈敏度
D.以上都是
A.壓電晶片的尺寸大,則輻射功率大,可檢測距離大,指向性好,檢測效率較高
B.壓電晶片的尺寸大,則近場長度大,始波占寬較大,近表面分辨率降低,雜波多,信噪比低,遠場分辨率降低
C.壓電晶片尺寸小,則近場長度短,始波占寬小,近表面分辨率高,雜波少,信噪比高,遠場分辨率好
D.壓電晶片尺寸小,則輻射功率小,可檢測距離小,指向性差,檢測效率低
E.以上都對
A.阻尼塊
B.匹配線圈
C.延遲塊
D.保護膜
A.入射點或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是
A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
單探頭法容易檢出()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。