單項(xiàng)選擇題對于單晶斜探頭,在使用中經(jīng)常要校驗(yàn)的參數(shù)是()

A.入射點(diǎn)或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是


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1.單項(xiàng)選擇題軟保護(hù)膜探頭使用于()的工件表面。

A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況

2.單項(xiàng)選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān),晶片越薄則()

A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對

3.單項(xiàng)選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測厚儀利用的是()

A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法

4.單項(xiàng)選擇題評價(jià)超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現(xiàn)并顯示最小缺陷能力的指標(biāo)是()

A.分辨率
B.時(shí)基線性
C.垂直線性
D.動(dòng)態(tài)范圍

5.單項(xiàng)選擇題超聲波檢測儀的分辨率主要與()有關(guān)。

A.掃描電路
B.頻帶寬度
C.動(dòng)態(tài)范圍
D.放大倍數(shù)

最新試題

實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。

題型:單項(xiàng)選擇題

底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型:單項(xiàng)選擇題

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。

題型:單項(xiàng)選擇題

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。

題型:單項(xiàng)選擇題

探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。

題型:單項(xiàng)選擇題

縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:單項(xiàng)選擇題