A.CRC校驗(yàn)
B.海明碼校驗(yàn)
C.多種校驗(yàn)方式的組合
D.奇偶校驗(yàn)
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A.SRAM需要定時(shí)刷新，否則數(shù)據(jù)會(huì)丟失
B.DRAM使用內(nèi)部電容來(lái)保存信息
C.SRAM的集成度高于DRAM
D.只要不掉點(diǎn)，DRAM內(nèi)的數(shù)據(jù)不會(huì)丟失
A.帶阻濾波器
B.帶通濾波器
C.低通濾波器
D.高通濾波器
A.ALU，EU
B.ALU，BIU
C.EU，BIU
D.ALU，EU，BIU
A.U/3
B.2U/3
C.3U/4
D.不變
最新試題
捕捉毛刺用最佳觸發(fā)方式（）進(jìn)行觸發(fā)。
在RS232串口中，采用哪一種校驗(yàn)方式：（）。
在Buck電路中，不能起到減小紋波作用的措施是（）。
光交叉處理（）的調(diào)度，通常與所承載的業(yè)務(wù)類型（）。（）處理電信號(hào)的調(diào)度，與所承載的業(yè)務(wù)類型（）
8086CPU內(nèi)部包括哪些單元？（）
ITU-T中，當(dāng)光信道間隔為0.8nm的系統(tǒng)，中心波長(zhǎng)的偏差不能大于：（）
DRAM上電時(shí)存儲(chǔ)單元的內(nèi)容是全0，而Flash上電時(shí)存儲(chǔ)單元的內(nèi)容是全1。（）
對(duì)于D觸發(fā)器來(lái)說(shuō)，為了保證可靠的采樣，數(shù)據(jù)必須在時(shí)鐘信號(hào)的上升沿到來(lái)之前繼續(xù)穩(wěn)定一段時(shí)間，這個(gè)時(shí)間稱為（）。
放大電路的輸出信號(hào)產(chǎn)生非線性失真是由于電路中晶體管的非線性引起的。（）
DWDM設(shè)備OLP單板可以檢測(cè)的告警有（）