A.反射
B.折射
C.衍射
D.散射
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A.降低
B.升高
C.不確定
D.先升高再降低
A.只能承受剪切應(yīng)力,不能承受壓應(yīng)力
B.只能承受壓應(yīng)力,不能承受剪切應(yīng)力
C.能承受壓應(yīng)力和剪切應(yīng)力
D.以上都不對(duì)
A.相速度,頻速度
B.群速度,相速度
C.相速度,群速度
D.頻速度,相速度
A.相速度
B.頻速度
C.群速度
D.以上都不對(duì)
A.相速度
B.頻速度
C.群速度
D.以上都不對(duì)
最新試題
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來,最主要的是決定于()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()