判斷題JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:磁粉檢測用的磁探機應(yīng)定期進行校驗,并有記錄可查。
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JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時,按一條磁痕處理,其長度為兩條磁痕之和加間距。
題型:判斷題
在不退磁的情況下,周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
題型:判斷題
磁粉檢測,所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場中,逐漸減小電流至零。
題型:判斷題
干磁粉可采用手動或電動噴粉器以及其他合適的工具來施加,施加時磁粉應(yīng)厚些撒在工件表面上。
題型:判斷題
用連續(xù)法檢測時,檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)。
題型:判斷題
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:檢測后加熱至600℃以上進行熱處理的工件,一般可不進行退磁。
題型:判斷題
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
題型:判斷題
一般說來,進行了周向磁化工件的退磁,應(yīng)先進行一次縱向磁化。
題型:判斷題