A.激光束
B.電子束
C.熒光束
D.紫外光束
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.采用的IP板性能
B.IP板圖像讀出時(shí)掃描激光點(diǎn)尺寸
C.掃描的機(jī)械裝置性能
D.透照的曝光量
A.可獲得更高信噪比
B.可獲得更高對(duì)比度
C.通常都具有更高空間分辨率
D.數(shù)字化過(guò)程簡(jiǎn)單
A.探測(cè)器各個(gè)單元的尺寸、本底噪聲可能不同
B.探測(cè)器各個(gè)單元的本底噪聲、增益性能可能不同
C.探測(cè)器各個(gè)單元的增益性能、尺寸可能不同
D.探測(cè)器各個(gè)單元的尺寸、壞像素情況可能不同
A.只能通過(guò)掃描方式完成檢測(cè)圖像采集
B.這種系統(tǒng)必須有機(jī)械裝置
C.機(jī)械裝置的運(yùn)動(dòng)構(gòu)成了各方向的采樣間隔
D.只能以動(dòng)態(tài)檢測(cè)方式獲取檢測(cè)圖像。
A.非晶硅面陣探測(cè)器
B.氣體面陣探測(cè)器
C.CMOS面陣探測(cè)器
D.非晶硒面陣探測(cè)器
最新試題
評(píng)片時(shí)對(duì)觀片燈的要求是()
X射線的強(qiáng)度與下面哪個(gè)參數(shù)有關(guān)()
下列哪一項(xiàng)對(duì)射線照相有效透照范圍的影響最大()
射線照相法適用于下列哪種檢測(cè)對(duì)象()
下列與底片上缺陷觀察有關(guān)的因素是()
以下關(guān)于聲發(fā)射檢測(cè)的特點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
射線底片灰霧度過(guò)大會(huì)損害影像的()
在射線檢測(cè)中,下列哪一種裂紋最難檢測(cè)()
同位素的含義是()
渦流檢測(cè)不適合于檢測(cè)()