A.采用的IP板性能
B.IP板圖像讀出時(shí)掃描激光點(diǎn)尺寸
C.掃描的機(jī)械裝置性能
D.透照的曝光量
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.可獲得更高信噪比
B.可獲得更高對(duì)比度
C.通常都具有更高空間分辨率
D.數(shù)字化過程簡(jiǎn)單
A.探測(cè)器各個(gè)單元的尺寸、本底噪聲可能不同
B.探測(cè)器各個(gè)單元的本底噪聲、增益性能可能不同
C.探測(cè)器各個(gè)單元的增益性能、尺寸可能不同
D.探測(cè)器各個(gè)單元的尺寸、壞像素情況可能不同
A.只能通過掃描方式完成檢測(cè)圖像采集
B.這種系統(tǒng)必須有機(jī)械裝置
C.機(jī)械裝置的運(yùn)動(dòng)構(gòu)成了各方向的采樣間隔
D.只能以動(dòng)態(tài)檢測(cè)方式獲取檢測(cè)圖像。
A.非晶硅面陣探測(cè)器
B.氣體面陣探測(cè)器
C.CMOS面陣探測(cè)器
D.非晶硒面陣探測(cè)器
A.射線源的能量與焦點(diǎn)尺寸
B.探測(cè)器系統(tǒng)尺寸與重量
C.圖像顯示與存儲(chǔ)處理單元的硬件特性
D.圖像顯示與存儲(chǔ)處理單元的軟件特性
最新試題
下列關(guān)于X射線機(jī)的使用的描述不正確的是()
在同樣的X射線管電流下,管電壓增加,則()
對(duì)焊縫清根的檢測(cè)一般采用下列什么方法()
A型脈沖超聲波檢測(cè)存在的主要問題是()
X射線管焦點(diǎn)有效面積取決于()
在試件外緣由射線散射引起射線照相圖像質(zhì)量變差的現(xiàn)象叫()
X射線的強(qiáng)度與下面哪個(gè)參數(shù)有關(guān)()
射線底片灰霧度過大會(huì)損害影像的()
RT檢測(cè)中,控制散射線的方法是采用哪種手段()
核力與下列哪種因素?zé)o關(guān)()