多項(xiàng)選擇題相同探頭,當(dāng)缺陷直徑一定時(shí),缺陷波高隨距離的變化程度較快的是()

A.點(diǎn)狀形
B.球形
C.圓柱形
D.圓片形
E.條形


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1.多項(xiàng)選擇題試件中實(shí)際缺陷的形狀多種多樣,通常把缺陷的形狀簡(jiǎn)化為()

A.圓片形
B.球形
C.圓柱形
D.點(diǎn)狀形
E.條形

2.多項(xiàng)選擇題超聲波探傷為了減少側(cè)壁反射的影響,應(yīng)選用()探頭。

A.晶片直徑大
B.頻率低
C.指向性好
D.晶片直徑小
E.頻率高

3.多項(xiàng)選擇題超聲波檢測(cè)中,耦合劑的()對(duì)回波的高度有一定的影響。

A.濃度
B.價(jià)格
C.形狀
D.聲阻抗
E.耦合層厚度

4.多項(xiàng)選擇題超聲探傷儀的()等都會(huì)直接影響回波高度。

A.垂直線性
B.水平線性
C.晶片尺寸
D.頻率與K值
E.探頭形式

最新試題

對(duì)于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。

題型:判斷題

對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓實(shí)際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會(huì)使定量誤差增加。

題型:判斷題

動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。

題型:判斷題

當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。

題型:判斷題

由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。

題型:判斷題

爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。

題型:判斷題

由于超聲波對(duì)進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。

題型:判斷題

發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。

題型:判斷題

水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。

題型:判斷題

高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。

題型:判斷題