多項選擇題超聲探傷儀的（）等都會直接影響回波高度。
A.垂直線性
B.水平線性
C.晶片尺寸
D.頻率與K值
E.探頭形式
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1.多項選擇題探傷操作人員在對探頭進行測試時，當測定探頭的（）誤差較大時，全影響缺陷定位。
A.始波寬度
B.入射點
C.聲束寬度
D.回波頻率
E.K值
2.多項選擇題工件材質(zhì)對缺陷的定位影響主要是（）
A.聲速
B.聲壓
C.聲強
D.內(nèi)應力
E.外應力
3.多項選擇題工件對定位精度的影響包括（）
A.工件表面粗糙度
B.工件材質(zhì)
C.工件表面形狀
D.工件邊界
E.工件溫度
4.多項選擇題不同的超聲波探傷儀由于（）會產(chǎn)生不同的定位效果。
A.水平線性差異
B.垂直線性的差異
C.動態(tài)范圍的差異
D.分辨率的差異
E.儀器調(diào)節(jié)不當
5.多項選擇題電磁超聲可以像傳統(tǒng)的壓電晶片換能器一樣，在鐵磁性金屬中產(chǎn)生（），可同常規(guī)的超聲檢測一樣來檢測工件中的缺陷。
A.縱波
B.橫波
C.表面波
D.斜聲束
E.聚集聲束
最新試題
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
題型：判斷題
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時，不同K值探頭檢測同一根部缺陷，其回波高相差不大。
題型：判斷題
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。
題型：判斷題
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流，在外加磁場的作用下，在工件中形成超聲波波源。
題型：判斷題
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。
題型：判斷題
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側圓柱面波形轉換成二反射縱波，返回探頭接收，會形成等邊的三角形遲到回波。
題型：判斷題
當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時，而又沒有進行適當?shù)难a償，會使定量誤差增加，精度下降。
題型：判斷題
分辯率可使用通用探傷儀進行測量，測試時儀器抑制置“零”或“開”位，必要時可加匹配線圈。
題型：判斷題
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
題型：判斷題
衍射時差法對缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測量精確，實時成像，快速分析。
題型：判斷題