單項(xiàng)選擇題下面哪一種反射體與入射聲束角度無關(guān)?()
A.平底孔
B.V形槽
C.橫通孔
D.柱孔
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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)超聲探傷對(duì)比試塊的基本要求是()
A.其聲速與被檢工件基本一致
B.材料中沒有超過φ2mm平底孔的缺陷
C.材料衰減不大且均勻
D.以上都是
2.單項(xiàng)選擇題儀器垂直線性好壞會(huì)影響();
A.缺陷當(dāng)量比較
B.AVG曲線面板使用
C.缺陷定位
D.以上都對(duì)
3.單項(xiàng)選擇題儀器水平線性的好壞直接影響()。
A.缺陷性質(zhì)判斷
B.缺陷大小判斷
C.缺陷精確定位
D.以上都對(duì)
4.單項(xiàng)選擇題線聚焦探頭的聲透鏡形狀為()
A.球面
B.平面
C.柱面
D.以上都可以
5.單項(xiàng)選擇題以下哪一條不屬于雙晶探頭的主要參數(shù)?()
A.近場長度
B.頻率
C.晶片尺寸
D.聲束交區(qū)范圍
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:單項(xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:單項(xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:單項(xiàng)選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項(xiàng)選擇題
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
題型:單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:單項(xiàng)選擇題