單項(xiàng)選擇題下列()情況要求選用大顆粒的X射線底片。

A、最快的速度
B、較長的曝光時(shí)間
C、低的黑度
D、最好的清晰度


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1.單項(xiàng)選擇題X射線管內(nèi)必須達(dá)到高真空的原因是()。

A、防止電極氧化
B、防止氣體電離
C、提高電極間的絕緣能力
D、以上都是

2.單項(xiàng)選擇題在焊縫上擺放線條型像質(zhì)計(jì)時(shí),像質(zhì)計(jì)()應(yīng)接近射線透照場邊緣方向。

A、粗線端
B、細(xì)線端
C、中部
D、可隨意放

3.單項(xiàng)選擇題周向曝光檢驗(yàn)環(huán)焊縫時(shí),像質(zhì)計(jì)()。

A、放置一只
B、在180°象限內(nèi)各放1只
C、至少均勻放3只
D、根據(jù)黑度要求而定

4.單項(xiàng)選擇題Χ射線管聚焦杯起電子透鏡的作用,聚焦杯如何限制電子束尺寸?()。

A、俘獲燈絲發(fā)射的雜散電子
B、限制燈絲電流的最大安培值;
C、減少靶散射的二次電子在玻璃管壁上產(chǎn)生的負(fù)電荷
D、與負(fù)電位相接

5.單項(xiàng)選擇題攜帶式X射線設(shè)備常用()。

A、倍壓電路
B、半波自整流電路
C、全波整流電路
D、以上都不是

最新試題

用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。

題型:單項(xiàng)選擇題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。

題型:單項(xiàng)選擇題

缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()

題型:單項(xiàng)選擇題

()件對不同類型的檢測對象和要求,采用的方式各有不同。

題型:單項(xiàng)選擇題

渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。

題型:單項(xiàng)選擇題

鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測中硬度檢驗(yàn)是一種()方法。

題型:單項(xiàng)選擇題

渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()

題型:單項(xiàng)選擇題

在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()

題型:單項(xiàng)選擇題

掃查方式一般視試件的()而定。

題型:單項(xiàng)選擇題