采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實用AVG曲線。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

各類渦流檢測儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。

用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）

缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

掃查方式一般視試件的（）而定。

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。