單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到()。

A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)()。

A、探頭耦合面幾何尺寸來(lái)決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對(duì)

2.單項(xiàng)選擇題采用雙晶直探頭檢驗(yàn)大口徑“管座角焊縫”時(shí),調(diào)節(jié)探傷靈敏度應(yīng)采用()。

A、底波計(jì)算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以

3.單項(xiàng)選擇題直接接觸法探傷可以使用()。

A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以

4.單項(xiàng)選擇題下列()晶片發(fā)射縱波的近場(chǎng)區(qū)最長(zhǎng)。

A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm

5.單項(xiàng)選擇題以下()1MHz探頭通常具有最佳的時(shí)間或垂直距離的分辨力。

A、無(wú)背襯石英探頭
B、帶酚醛樹(shù)脂背襯的石英探頭
C、帶酚醛樹(shù)脂背襯的鈦酸鋇探頭
D、帶環(huán)氧樹(shù)脂背襯的硫酸鋰探頭

最新試題

渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為()mm,峰值波長(zhǎng)為365mm。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測(cè)量黑光。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃查方式一般視試件的()而定。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題