對檢測儀的時間基線進行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。

當缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）

磁性測厚技術(shù)包括機械式和（）兩種測量方法。

用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

在遠場區(qū)，當缺陷比聲束截面小時，缺陷波高與缺陷面積成（）

鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

鋁合金電導率的渦流檢測中硬度檢驗是一種（）方法。