A.引起流過檢驗(yàn)線圈的電流的增加
B.引起流過檢驗(yàn)線圈的電流的減少
C.對流過檢驗(yàn)線圈的電流無影響
D.使加到線圈的電壓降低
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A.100HZ
B.10KHZ
C.1MHZ
D.10MHZ
A.提離效應(yīng)
B.邊緣效應(yīng)
C.填充系數(shù)
D.相位鑒別
A.測量磁導(dǎo)率的變化
B.測量電導(dǎo)率的變化
C.測量不導(dǎo)電復(fù)層的厚度
D.確定合適的檢驗(yàn)頻率
A.減少提離的變化
B.減少探頭的磨損
C.減少操作人員的疲勞
D.消除邊緣效應(yīng)
A.試樣的合金成分
B.試樣的熱處理
C.試樣的溫度
D.上述的三項(xiàng)
最新試題
射線檢測最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
檢測申請時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。