單項(xiàng)選擇題在渦流探傷儀中實(shí)現(xiàn)調(diào)制分析法的主要單元是()。

A.掃描電路
B.報(bào)警電路
C.選通電路
D.濾波電路


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你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題在渦流探傷儀中實(shí)現(xiàn)阻抗分析法的主要單元是()。

A.標(biāo)記器
B.放大器
C.相敏檢波器
D.記錄器

2.單項(xiàng)選擇題幅度鑒別器可用來(lái)提高缺陷信號(hào)的()。

A.幅度
B.周期
C.信噪比
D.帶負(fù)載能力

3.單項(xiàng)選擇題相敏檢波器為了起到阻抗分析的作用,除要加入缺陷信號(hào)之外,還要加入()。

A.經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)
B.不經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)
C.任意相位的正弦信號(hào)
D.以上三種都可以

4.單項(xiàng)選擇題為了從緩慢的尺寸變化信號(hào)中分析出短促的缺陷信號(hào),可采用()。

A.通濾波器
B.旁路濾波器
C.高通濾波器
D.電源濾波器

5.單項(xiàng)選擇題渦流探傷儀中給探頭提供激勵(lì)電流的單元是()。()。

A.移相器和相敏檢波器
B.振盈器和功率放大器
C.高、低通濾波器
D.示波器和報(bào)警器

最新試題

在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。

題型:判斷題

一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題