A、流動性
B、凝結(jié)時間
C、黏聚性
D、保水性
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A、稠度
B、凝結(jié)時間
C、碳化深度
D、泌水率
A、同一檢驗批只進(jìn)行一組試驗時，應(yīng)將試驗結(jié)果作為檢驗結(jié)果
B、同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗時，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最小值作為檢驗結(jié)果
C、同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗時，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最大值作為檢驗結(jié)果
D、同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗時，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的平均值作為檢驗結(jié)果
A、同一檢驗批只進(jìn)行一組試驗時，應(yīng)將試驗結(jié)果作為檢驗結(jié)果
B、同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗時，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最小值作為檢驗結(jié)果
C、同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗時，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最大值作為檢驗結(jié)果
D、同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗時，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的平均值作為檢驗結(jié)果
A、對于同一檢驗批只進(jìn)行一組試驗的檢驗項目，應(yīng)將試驗結(jié)果作為檢驗結(jié)果
B、對于同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗的檢驗項目，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最小值作為檢驗結(jié)果
C、對于同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗的檢驗項目，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最大值作為檢驗結(jié)果
D、對于同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗的檢驗項目，應(yīng)按不同的性能項目取所有組試驗結(jié)果中的最小值或最大值作為檢驗結(jié)果
A、同一檢驗批砼的強度等級、齡期、生產(chǎn)工藝和配合比應(yīng)相同
B、對于同一工程、同一配合比的砼，檢驗批不應(yīng)少于一個
C、對于同一檢驗批，設(shè)計要求的各個檢驗項目應(yīng)至少完成一組試驗
D、對于同一檢驗批，設(shè)計要求的各個檢驗項目應(yīng)至少完成三組試驗
最新試題
影響單晶內(nèi)雜質(zhì)數(shù)量及分布的主要因素是（）①原材料中雜質(zhì)的種類和含量；②雜質(zhì)的分凝效應(yīng)；③雜質(zhì)的蒸發(fā)效應(yīng)；④生長過程中坩堝或系統(tǒng)內(nèi)雜質(zhì)的沾污；⑤加入雜質(zhì)量；
一塊半導(dǎo)體壽命τ=15µs，光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子，光照突然停止30µs后，其中非平衡載流子將衰減到原來的（）。
如果雜質(zhì)既有施主的作用又有受主的作用，則這種雜質(zhì)稱為（）。
雜質(zhì)半導(dǎo)體中的載流子輸運過程的散射機構(gòu)中，當(dāng)溫度升高時，電離雜質(zhì)散射的概率和晶格振動聲子的散射概率的變化分別是（）
原子晶體中的原子與原子之間的鍵能隨原子間距的而迅速（）
下列哪個不是單晶常用的晶向（）
PN結(jié)的基本特性是（）
對于同時存在一種施主雜質(zhì)和一種受主雜質(zhì)的均勻摻雜的非簡并半導(dǎo)體，在溫度足夠高、ni>>/ND-NA/時，半導(dǎo)體具有（）半導(dǎo)體的導(dǎo)電特性。
載流子的擴散運動產(chǎn)生擴散電流，漂移運動產(chǎn)生（）電流。
可用作硅片的研磨材料是（）