A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值
B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長(zhǎng)
C.顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小
D.以上都正確
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A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2的整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C
A.曲面探傷時(shí)可減少耦合損失
B.可減少材質(zhì)衰減損失
C.輻射聲能大且能量集中
D.以上全部
A.較低頻探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都對(duì)
A.直探頭探傷法
B.脈沖反射法
C.斜探頭探傷法
D.穿透法
最新試題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
單探頭法容易檢出（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。