問(wèn)答題S8500支持哪兩種類(lèi)型的QINQ?
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關(guān)于SRAM和DRAM,下面說(shuō)法正確的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下哪種信號(hào)異常能用邏輯分析儀測(cè)試?()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
關(guān)于BWS 1600G系統(tǒng),下列說(shuō)法不正確的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
捕捉毛刺用最佳觸發(fā)方式()進(jìn)行觸發(fā)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
DWDM系統(tǒng)OTU單板使用的半導(dǎo)體光檢測(cè)器主要有PIN管和APD管兩種,對(duì)APD管來(lái)說(shuō),其接收光功率過(guò)載點(diǎn)為()dBm。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
通過(guò)U2000網(wǎng)管查詢(xún)OUT單板WDM性能可以看到()。
題型:多項(xiàng)選擇題
M40單板上產(chǎn)生了MUT-LOS告警,關(guān)于處理此告警說(shuō)法正確的是:()
題型:多項(xiàng)選擇題
對(duì)于D觸發(fā)器來(lái)說(shuō),為了保證可靠的采樣,數(shù)據(jù)必須在時(shí)鐘信號(hào)的上升沿到來(lái)之前繼續(xù)穩(wěn)定一段時(shí)間,這個(gè)時(shí)間稱(chēng)為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
DRAM上電時(shí)存儲(chǔ)單元的內(nèi)容是全0,而Flash上電時(shí)存儲(chǔ)單元的內(nèi)容是全1。()
題型:判斷題
在RS232串口中,采用哪一種校驗(yàn)方式:()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題