當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。