底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

儀器水平線性影響（）。

在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。

單探頭法容易檢出（）。

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。