A、角度調(diào)整;
B、掃描;
C、距離-幅度變化修正;
D、標(biāo)定。
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A.當(dāng)量法
B.測長法
C.半波高度法
D.絕對靈敏度法
A.與探測面成某一角度的缺陷
B.與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體狀缺陷
C.與探測面相垂直的面狀缺陷
D.與探測面垂直的橫向缺陷
A.遲到波
B.61°反射波
C.三角反射波
D.工件輪廓回波
A.選擇與待檢工件尺寸相同或相近的試塊
B.將探頭對準(zhǔn)試塊上的人工反射體,調(diào)節(jié)儀器使示波屏上人工缺陷的最高反射波達到基準(zhǔn)波高
C.計算出人工反射體與所要求的靈敏度之間的回波分貝差Δ(dB)
D.將儀器靈敏度增益Δ(dB),并根據(jù)工件和試塊的材質(zhì)給予一定補償
A.缺陷定位的準(zhǔn)確度
B.缺陷測長的準(zhǔn)確度
C.缺陷測高的準(zhǔn)確度
D.缺陷定量的準(zhǔn)確度
A.遲到波
B.61°反射波
C.三角反射波
D.工件輪廓回波
A.表面波法
B.縱波法
C.導(dǎo)波法
D.橫波法
A.檢測結(jié)果重復(fù)性好
B.靈敏度高
C.探頭不容易磨損
D.耦合穩(wěn)定
A.一次反射波和始波
B.三次不同的反射波
C.二次反射波和始波
D.二次不同的反射波
A.水平距離
B.深度
C.聲程及折射角度
D.聲程
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計算法進行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
單探頭法容易檢出()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。