磁懸液應采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。

磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應記錄并圖示。

熒光磁粉檢測時，磁痕的評定應在暗室或暗處進行，暗室或暗處可見光照度應不小于20Lx。

濕法用磁粉粒度一般比干法小。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：剩磁應不大于0.3mT（240A/m）。

相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。

根據(jù)JB/T4730.4-2005標準規(guī)定，磁粉檢測前的工件表面準備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強劑。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：當辯認細小缺陷磁痕時應用2～10倍放大鏡進行觀察。