A．剩磁法；
B．連續(xù)法
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A．表面缺陷；
B．內(nèi)部缺陷；
C．表面和近表面缺陷；
D．以上都可以
A．芯棒法；
B．縱向通電法；
C．磁軛法；
D．觸頭法；
E．磁通貫通法；
F．A，C和E都是
A．表面缺陷；
B．近表面缺陷；
C．A和B都是；
D．以上都不是
A．周向磁化；
B．縱向磁化；
C．偏振磁化；
D．剩余磁化
A．直流；
B．交流；
C．脈動(dòng)直流；
D．半波整流
最新試題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中，逐漸減小電流至零。
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
采用濕法時(shí)，應(yīng)確認(rèn)整個(gè)檢測(cè)面被磁懸液濕潤后，再施加磁懸液。
材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場(chǎng)換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場(chǎng)值應(yīng)較小，且每次停留的時(shí)間（周期）要略長。
在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?yàn)，主要是用來檢驗(yàn)水磁懸液對(duì)被檢表面的潤濕性能，只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻?，才可以開始磁粉檢測(cè)。
打亂材料磁疇排布的兩種方法是：加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場(chǎng)退磁法。
熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行，暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。