A.磁力曲線;
B.磁滯回線;
C.飽和曲線;
D.磁感應(yīng)曲線
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A.飽和點(diǎn);
B.磁場(chǎng);
C.鐵磁性;
D.順磁性
A.鐵磁性材料有磁滯現(xiàn)象;
B.隨著含碳量增高,矯頑力增大
C.鐵磁性材料的磁導(dǎo)率遠(yuǎn)大于1,它是與外磁場(chǎng)變化無關(guān)的常數(shù)
D.鐵磁性材料比順磁性材料較難達(dá)到磁飽和狀態(tài);
E.A和B
A.順磁性的;
B.抗磁性的;
C.非磁性的;
D.放射性的
A.以固定位置排列,方向相互抵消;
B.以固定位置排列,在一個(gè)方向占優(yōu)勢(shì);
C.無規(guī)則排列;
D.與金屬點(diǎn)陣相同
A.磁性強(qiáng);
B.根本無磁性;
C.磁性微弱;
D.缺乏電子運(yùn)動(dòng)
最新試題
熒光磁粉檢測(cè)時(shí),磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行,暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。
在不退磁的情況下,周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)的系統(tǒng)靈敏度,確定被檢工件的磁化規(guī)范。
剩磁法不能用于干法檢測(cè)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中,逐漸減小電流至零。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:大型工件可使用交流電磁軛進(jìn)行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁。
磁粉檢測(cè)—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測(cè)。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。