A.探測和評(píng)定試件中各種缺陷
B.探測和確定試樣中的缺陷長度、深度和寬度
C.確定試樣的抗拉強(qiáng)度
D.探測工件表面的開口缺陷
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A.可發(fā)現(xiàn)各種類型的缺陷
B.原理簡單容易理解
C.應(yīng)用方法比較簡單
D.被檢零件的形狀尺寸沒有限制
A.可發(fā)現(xiàn)和評(píng)定工件的各種缺陷
B.準(zhǔn)確測定表面缺陷的的長度、深度和寬度
C.對(duì)表面缺陷顯示直觀且不受方向限制
D.以上都是
A.這種方法能精確地測量裂紋或不連續(xù)性的深度
B.這種方法能殖民地檢驗(yàn)大型零件
C.這種方法能發(fā)現(xiàn)淺的表面缺陷
D.使用不同類型的滲透材料可獲得較低或較高的靈敏度
A.不能用于鐵磁性材料
B.不能發(fā)現(xiàn)淺的表面缺陷
C.不能用于非金屬表面
D.不能發(fā)現(xiàn)近表面缺陷
A.較大的寬度
B.較大的深度
C.較大的寬深比
D.較小的寬深比
最新試題
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）
X射線檢測人員健康體檢為每（）年一次。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn)，檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn)，否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集，定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。