A.提高橫向裂紋檢出率;
B.減小幾何不清晰度;
C.增大厚度寬容度;
D.提高底片對(duì)比度。
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A.鉛箔劃傷部位厚度減薄,對(duì)射線吸收減小,從而使該處透射線時(shí)增多;
B.劃傷使鉛箔表面增大,因而發(fā)射電子的面積增大,增感作用加強(qiáng);
C.深度劃傷與膠片之間的間隙增大,散射線增加;
D.以上都對(duì)。
A.應(yīng)在黑度軸上有些重合;
B.在黑度軸上無(wú)需重合;
C.應(yīng)在1gE軸上有些重合;
D.在1gE軸上無(wú)需重合。
A.為了防止暗室處理不當(dāng)而重新拍片;
B.為了防止探傷工藝選擇不當(dāng)而重新拍片;
C.為了防止膠片上的偽缺陷而重新拍片;
D.用于厚度差較大工件的射線探傷,這樣在不同厚度部位都能得到黑度適當(dāng)?shù)牡灼?/p>
A.提高管電流;
B.提高管電壓;
C.增加曝光時(shí)間;
D.縮短焦距。
A.10mm;
B.20mm;
C.14mm
D.15.4mm。
最新試題
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。