A、膠片本身質(zhì)量有問題
B、膠片被宇宙線曝光
C、暗盒邊緣處漏光
D、膠片受散射線照射
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A、膠片本身質(zhì)量問題、膠片儲藏時(shí)間過久或超過有效期較長
B、暗室紅燈過亮,顯影液濃度過高、顯影液溫度過高
C、膠片在透照前已曝光,曝光過度,受散射線影響
D、以上都是
A、底片暗盒受熱,例如陽光或輻射熱
B、暗盒漏光
C、顯影液溫度過高
D、以上都是
A、條紋
B、粒度
C、點(diǎn)
D、白垢
A、對比度
B、不清晰度
C、顆粒度
D、以上都是
A、射線照片上可發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
B、射線照片上可識別的像質(zhì)計(jì)最小細(xì)節(jié)尺寸
C、對所有像質(zhì)計(jì)統(tǒng)一規(guī)定的像質(zhì)指數(shù)
D、以上都不是
最新試題
關(guān)于超聲波斜入射,下列說法正確的是()
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用()
水浸式垂直探傷鋼板時(shí),超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有()
射線經(jīng)過一個半價(jià)層后,其()衰減一半。
一般來說,對薄工件焊縫的超聲波探傷選用大折射角探頭可以()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場強(qiáng)度的是()
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1:1調(diào)整后,其始波前沿()
在近場以外的部分,即聲程大于3N的遠(yuǎn)場區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為()
下列關(guān)于IIW試塊的說法,正確的是()
選擇滲透探傷方法時(shí),對于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()