A、對(duì)比度
B、不清晰度
C、顆粒度
D、以上都是
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A、射線照片上可發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
B、射線照片上可識(shí)別的像質(zhì)計(jì)最小細(xì)節(jié)尺寸
C、對(duì)所有像質(zhì)計(jì)統(tǒng)一規(guī)定的像質(zhì)指數(shù)
D、以上都不是
A、射線照片記錄、顯示細(xì)節(jié)的能力
B、射線照相能夠發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
C、射線照相能夠發(fā)現(xiàn)最小缺陷能力的定量評(píng)價(jià)
D、以上都對(duì)
A、感光度
B、襯度
C、溫度性能
D、密度
A、底片密度
B、缺陷影像尺寸
C、膠片顆粒性
D、觀片條件
E、個(gè)人視力差別
F、以上都是
A、5cd/m2
B、0.5cd/m2
C、1cd/m2
D、0.1cd/m2
最新試題
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí),會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象()
磁力線有哪些特征?
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
選擇滲透探傷方法時(shí),對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
感應(yīng)電流法磁化工件主要采用()