A、底片暗盒受熱,例如陽(yáng)光或輻射熱
B、暗盒漏光
C、顯影液溫度過(guò)高
D、以上都是
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A、條紋
B、粒度
C、點(diǎn)
D、白垢
A、對(duì)比度
B、不清晰度
C、顆粒度
D、以上都是
A、射線照片上可發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
B、射線照片上可識(shí)別的像質(zhì)計(jì)最小細(xì)節(jié)尺寸
C、對(duì)所有像質(zhì)計(jì)統(tǒng)一規(guī)定的像質(zhì)指數(shù)
D、以上都不是
A、射線照片記錄、顯示細(xì)節(jié)的能力
B、射線照相能夠發(fā)現(xiàn)的最小缺陷尺寸
C、射線照相能夠發(fā)現(xiàn)最小缺陷能力的定量評(píng)價(jià)
D、以上都對(duì)
A、感光度
B、襯度
C、溫度性能
D、密度
最新試題
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波,下列說(shuō)法正確的是()(S為傳播距離,N為近場(chǎng)長(zhǎng)度)。
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
感應(yīng)電流法磁化工件主要采用()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
射線照像底片產(chǎn)生黃色灰霧,其原因是()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>
選擇滲透探傷方法時(shí),對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()