儀器水平線性影響（）。

測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

調節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

在對缺陷進行定量前，必須先調節(jié)（）。

（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據產品技術要求或有關標準來確定。

（）是影響缺陷定量的因素。

靈敏度采用試塊調節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。