A.Ø1x6-9dB
B.Ø1x6-6dB
C.Ø3-4dB
D.Ø1x6+10dB
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A.Ø1x6mm
B.Ø2x40mm
C.Ø3mm
D.以上都不是
A.Ⅰ級(jí)
B.Ⅱ級(jí)
C.Ⅲ級(jí)
D.Ⅳ級(jí)
A.Ⅰ級(jí)
B.Ⅱ級(jí)
C.Ⅲ級(jí)
D.Ⅳ級(jí)
A.<5mm
B.<8mm
C.<10mm
D.<15mm
A.不低于評(píng)定線靈敏度
B.不低于基準(zhǔn)線靈敏度
C.不低于定量線靈敏度
D.不低于判廢線靈敏度
最新試題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為()。
儀器水平線性影響()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。