A.<5mm
B.<8mm
C.<10mm
D.<15mm
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A.不低于評(píng)定線靈敏度
B.不低于基準(zhǔn)線靈敏度
C.不低于定量線靈敏度
D.不低于判廢線靈敏度
A.DAC、DAC-10db、DAC-16db
B.DAC-4db、DAC-10db、DAC-16db
C.DAC-2db、DAC-8db、DAC-14db
D.以上都不是
A.70°或60°
B.45°
C.K1.5、K2、K2.5
D.以上A或C
A.1MHz
B.2MHz
C.2.5MHz
D.2~2.5 MHz
A.一次反射
B.直射
C.二次波
D.以上都不是
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。
儀器水平線性影響()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。